Сравнение методов изменения спектра излучения импульсного рентгеновского источника для определения наиболее эффективной двухэнергетической обработки изображений

Обложка

Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

Для детектирования близких по химическому составу и плотности веществ одним из перспективных методов неразрушающего контроля является двухэнергетическая обработка рентгеновских изображений. В частности, алгоритмы двухэнергетических преобразований могут применяться для поиска скрытых в пустой породе минералов. Метод является наиболее эффективным, когда правильно подобраны условия регистрации рентгеновских изображений и энергетические уровни. В работе проведено сравнение эффективности обработки изображений двухэнергетическим методом для трех случаев изменения спектрального состава: во-первых, в результате регулировки напряжения на рентгеновской трубке; во-вторых, при ослаблении низкоэнергетического излучения за счет применения медного фильтра; в-третьих, при комбинации данных способов. В качестве образцов для детектирования применяются частицы берилла, впрессованные в измельченный мусковит. В работе применяется источник импульсного рентгеновского излучения, который обеспечивает генерацию импульсов излучения наносекундной длительности. Для способа регулировки энергии излучения за счет изменения пикового напряжения на рентгеновской трубке реализована оригинальная схема высоковольтного генератора. Применение рентгеновских источников данного типа обеспечивает возможность получения рентгеновских изображениях движущихся объектов с высоким разрешением.

Полный текст

Доступ закрыт

Об авторах

А. А. Комарский

Институт электрофизики УрО РАН

Автор, ответственный за переписку.
Email: aakomarskiy@gmail.com
Россия, 620110 Екатеринбург, ул. Амундсена, 106

С. Р. Корженевский

Институт электрофизики УрО РАН

Email: korser1970@yandex.ru
Россия, 620110 Екатеринбург, ул. Амундсена, 106

А. В. Пономарев

Институт электрофизики УрО РАН

Email: avponomarev@ya.ru
Россия, 620110 Екатеринбург, ул. Амундсена, 106

А. С. Чепусов

Институт электрофизики УрО РАН

Email: avponomarev@ya.ru
Россия, 620110 Екатеринбург, ул. Амундсена, 106

В. В. Криницин

Институт электрофизики УрО РАН

Email: avponomarev@ya.ru
Россия, 620110 Екатеринбург, ул. Амундсена, 106

О. Д. Красный

Институт электрофизики УрО РАН

Email: avponomarev@ya.ru
Россия, 620110 Екатеринбург, ул. Амундсена, 106

Список литературы

  1. Blake G.M., Fogelman I. Technical principles of dual energy X-ray absorptiometry // Seminars in Nuclear Medicine. 1997. V. 27. No. 3. P. 210—228. doi: 10.1016/S0001-2998(97)80025-6
  2. Ramos R.M.L., Arman J.A., Galeano N.A., Hernandez A.M., Gomez J.M.G., Molinero J.G. Dual energy X-ray absorptimetry: Fundamentals, methodology, and clinical applications // Radiología (English Edition). 2012. V. 54. No. 5. P. 410—423. doi: 10.1016/j.rxeng.2011.09.005
  3. Rebuffel V., Dinten J.M. Dual-energy X-ray imaging: benefits and limits. Insight - Non-Destructive Testing and Condition Monitoring. 2007. V. 49. P. 589—594. doi: 10.1784/insi.2007.49.10.589
  4. Johnson T.R. Dual-energy CT: general principles // American Journal of Roentgenology. 2012. V. 199. No. 5. P. 3—8. doi: 10.2214/AJR.12.9116
  5. Abbasi S., Mohammadzadeh M., Zamzamian M. A novel dual high-energy X-ray imaging method for materials discrimination // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A. 2019. V. 930. P. 82—86. doi: 10.1016/j.nima.2019.03.064
  6. Kanno I., Yamashita Y., Kimura M., Inoue F. Effective atomic number measurement with energy-resolved X-ray computed tomography // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A. 2015. V. 787. P. 121—124. doi: 10.1016/j.nima.2014.11.072
  7. Iovea M., Neagu M., Duliu O.G., Oaie G., Szobotka S., Mateiasi G. A Dedicated on-board dual-energy computer tomograph // J. Nondestruct. Eval. 2011. V. 30. P. 164—171. doi: 10.1007/s10921-011- 0104-x
  8. Komarskiy A.A., Korzhenevskiy S.R., Komarov N.A. Detection of plastic articles behind metal layers of variable thickness on dual-energy X-ray images using artificial neural networks // AIP Conf. Proc. 2023. V. 2726. No. 1. P. 020012. doi: 10.1063/5.0134249
  9. Yalçın O., Reyhancan İ.A. Detection of explosive materials in dual-energy X-Ray security systems // Nuclear Inst. And Methods in Physics Research. A. 2022. V. 1040. No. 1. P. 167265. doi: 10.1016/j.nima.2022.167265
  10. Li B., Yadava G., Hsieh J. Quantification of head and body CTDI(VOL) of dual-energy x-ray CT with fast-kVp switching // Medical Physics. 2011. V. 38. No. 5. P. 2595—2601. doi: 10.1118/1.3582701
  11. Alvarez R.E. Invertibility of the dual energy x-ray data transform // Medical Physics. 2019. V. 46. No. 1. P. 93—103. doi: 10.1002/mp.13255
  12. Udod V.A., Osipov S.P., Nazarenko S.Yu. Algorithm for Optimizing the Parameters of Sandwich X-ray Detectors // X-ray Methods. 2023. V. 59. P. 359—373. doi: 10.1134/S1061830923700298
  13. Osipov S.P., Udod V.A., Wang Y. Identification of materials in X-Ray inspections of objects by the dualenergy method // Russian Journal of Nondestructive Testing. 2017. V. 53. No. 8. P. 568—587. doi: 10.1134/S1061830917080058
  14. Macdonald R. Design and implementation of a dual-energy X-ray imaging system for organic material detection in an airport security application // Proceedings of the SPIE. 2001. V. 4301. P. 31—41. doi: 10.1117/12.420922
  15. Rosenfeld A., Alnaghy S., Petasecca M., Cutajar D., Lerch M., Pospisil S., Giacometti V., Schulte R., Rosso V., Würl M., Granja C., Martišíková M., Parodi K. Medipix detectors in radiation therapy for advanced quality-assurance // Radiation Measurements. 2020. V. 130. P. 106211. doi: 10.1016/j.radmeas.2019.106211
  16. Bauer C., Wagner R., Orberger B., Firsching M., Ennen A., Pina C.G., Wagner C., Honarmand M., Nabatian G., Monsef I. Potential of Dual and Multi Energy XRT and CT Analyses on Iron Formations // Sensors. 2021. V. 21. P. 2455. doi: 10.3390/s21072455
  17. Tonai S., Kubo Y., Tsang M.Y., Bowden S., Ide K., Hirose T., Kamiya N., Yamamoto Y., Yang K., Yamada Y. A New Method for Quality Control of Geological Cores by X-Ray Computed Tomography: Application in IODP Expedition 370 // Frontiers in Earth Science. 2019. V. 7. P. 1—13. doi: 10.3389/feart.2019.00117
  18. Ghorbani Y., Becker M., Petersen J., Morar S.H., Mainza A., Franzidis J.-P. Use of X-ray computed tomography to investigate crack distribution and mineral dissemination in sphalerite ore particles // Minerals Engineering. 2011. V. 24. No. 12. P. 1249—1257. doi: 10.1016/j.mineng.2011.04.008
  19. Zhang Yi.R., Yoon N., Holuszko M.E. Assessment of Sortability Using a Dual-Energy X-ray Transmission System for Studied Sulphide Ore // Minerals. 2021. V. 11. No. 5. P. 490. doi: 10.3390/min11050490
  20. Komarskiy A., Korzhenevskiy S., Ponomarev A., Chepusov A. Dual-Energy Processing of X-ray Images of Beryl in Muscovite Obtained Using Pulsed X-ray Sources // Sensors. 2023. V. 23. No. 9. P. 4393. doi: 10.3390/s23094393
  21. Firsching M., Bauer C., Wagner R., Ennen A., Ahsan A., Kampmann T.C., Tiu G., Valencia A., Casali A., Atenas M.G. REWO-SORT Sensor Fusion for Enhanced Ore Sorting: A Project Overview / In Proceedings of the Procemin-Geomet Conference 2019. Chile. 2019. P. 1—9.
  22. Udod V.A., Osipov S.P., Wang Y. Estimating the influence of quantum noises on the quality of material identification by the dual-energy method // Russian Journal of Nondestructive Testing. 2018. V. 54. No. 8. P. 585—600. doi: 10.1134/S1061830918080077
  23. Rukin S.N., Tsyranov S.N. Subnanosecond breakage of current in high-power semiconductor switches // Technical Physics Letters. 2000. V. 26. No. 9. P. 824—826. doi: 10.1134/1.1315507
  24. Korzhenevsky S.R., Bessonova V.A., Komarsky A.A., Motovilov V.A., Chepusov A.S. Selection of electrohydraulic grinding parameters for quartz ore // Journal of Mining Science. 2016. V. 52. No. 3. P. 493—496. doi: 10.1134/S1062739116030706
  25. Rukin S.N. Pulsed power technology based on semiconductor opening switches: A review // Review of Scientific Instruments. 2020. V. 91. No. 1. P. 011501. doi: 10.1063/1.5128297
  26. Komarskii A.A., Baiankin S.N., Mozharova I.E., Kuznetsov V.L., Korzhenevskii S.R. Use of diagnostic nanosecond X-ray pulse apparatuses // Vestnik rentgenologii i radiologii. 2015. V. 2. P. 42—46.
  27. Komarskiy A.A., Korzhenevskiy S.R., Ponomarev A.V., Komarov N.A. Pulsed X-ray source with the pulse duration of 50ns and the peak power of 70MW for capturing moving objects. // Journal of X-Ray Science and Technology. 2021. V. 29. No. 4. P. 567—576. doi: 10.3233/XST-210873
  28. Vasil’ev P.V., Lyubutin S.K., Pedos M.S., Ponomarev A.V., Rukin S.N., Slovikovskii B.G., Timoshenkov S.P., Cholakh S.O. A nanosecond SOS generator with a 20-kHz pulse repetition rate // Instrum. Exp. Tech. 2010. V. 53. P. 830—835. doi: 10.1134/s0020441210060114
  29. Chepusov A., Komarskiy A., Kuznetsov V. The influence of ion bombardment on emission properties of carbon materials // Applied Surface Science. 2014. V. 306. P. 94—97. doi: 10.1007/s10812-013-9747-y

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML
2. Рис. 1. Структурная схема импульсного рентгеновского источника.

Скачать (161KB)
3. Рис. 2. Зависимость максимумов напряжений и токов импульсной рентгеновской трубки от напряжения на первичном накопителе.

Скачать (203KB)
4. Рис. 3. Осциллограммы импульсов напряжения и тока: максимального напряжения 145 кВ (а); максимальное напряжение 105 кВ (б).

Скачать (402KB)
5. Рис. 4. Спектры излучения для импульсного рентгеновского источника при максимальном напряжении 145 кВ, 105 кВ и при напряжении 145 кВ с использованием медного фильтра.

Скачать (285KB)
6. Рис. 5. Фото частиц берилла с прямоугольными гранями.

Скачать (195KB)
7. Рис. 6. Рентгеновские изображения объектов исследования, полученные при разных спектральных составах.

Скачать (506KB)
8. Рис. 7. Двухэнергетическая обработка при сочетании пар изображений, полученных при разных энергетических спектрах излучения. Частицы берилла проявляются как более темные включения (на изображениях имеется 3 частицы берилла, самая крупная имеет грань 5 мм, частица слева — 3 мм, частица сверху — 2 мм). В обозначениях направлений, указанных стрелками, цифра — это толщина образца (5 и 10 мм); v, h — вертикальное и горизонтальное направление соответственно, по которому получено распределение интенсивности яркости пикселей в дальнейшем.

Скачать (770KB)
9. Рис. 8. Профили интенсивности пикселей двухэнергетических изображений для образца толщиной 5 мм, направления распределений показаны стрелками на рис. 7 сверху; 2, 3 и 5 мм — это размеры граней частиц, которые попали в профили распределений.

Скачать (676KB)
10. Рис. 9. Профили интенсивности пикселей двухэнергетических изображений для образца толщиной 10 мм, направления распределений показаны стрелками на рис. 7 снизу; 2, 3 и 5 мм — это размеры граней частиц берилла, которые попали в профили распределений.

Скачать (594KB)

© Российская академия наук, 2024