Informaçao sobre o Autor
Chumakov, A. I.
| Edição | Seção | Título | Arquivo |
| Volume 53, Nº 2 (2024) | МОДЕЛИРОВАНИЕ | The new approach of a simulation low dose rate radiation effects in bipolar integrated circuits | |
| Volume 52, Nº 4 (2023) | НАДЕЖНОСТЬ | Single Event Displacement Effects in a VLSI |